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英文名称: Thin Film Thickness CRM of SiO2/Si 订货以英文名称为准。
产品编号: GBW13957 CAS: /
品牌:标准物质产地:中国
标准值:12.56nm分子式: /
英文名称: 扫描探针显微镜和扫描电子显微镜用一维纳米栅格标准物质 订货以英文名称为准。
产品编号: GBW13956 CAS: /
标准值:400.5nm分子式: /
英文名称: Multi-layer thin film thickness CRM of GaAs/AlAs superlattice 订货以英文名称为准。
产品编号: GBW13955 CAS: /
标准值:见证书分子式: /
英文名称: 纳米台阶高度标准物质 订货以英文名称为准。
产品编号: GBW13954 CAS: /
标准值:1000.0nm分子式: /
产品编号: GBW13953 CAS: /
标准值:500.0nm分子式: /