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中文名称：X射线衍射仪定量分析用二氧化硅标准物质
英文名称：Silicon dioxide Standard for quantitative analysis and calibration of X ray diffractometer订货以英文名称为准。
产品编号：GBW(E)130591CAS：/
品牌：标准物质产地：中国
标准值：见证书分子式：/
规格 市场价(元) 折后价(元) 供货周期 数量 加入购物车 5g 0.00 0.00 现货 加入购物车
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产品详细介绍
英文名称 Silicon dioxide Standard for quantitative analysis and calibration of X ray diffractometer 标准物质证书 标准物质证书英文 应用领域 保存条件 置于清洁阴凉处保存 使用注意事项 使用前应恒温至22.5±1℃，并充分摇动以保证均匀，轻轻打开瓶盖，以防颗粒吸入，使用过程中应严格防止沾污，使用后应把瓶盖紧、密封。 特征形态 固态 基体 主要分析方法 定值单位 规格 10mL玻璃瓶（5g/瓶） 量值信息 标准值 不确定度 单位 CAS 备注 晶格常数a 0.49136 0.00005 nm 晶格常数c 0.54052 0.00005 nm 相含量 96.6 0.8 %
