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中文名称：二氧化硅薄膜膜厚标准物质
英文名称：Thin Film Thickness CRM of SiO2/Si订货以英文名称为准。
产品编号：GBW13958CAS：/
品牌：标准物质产地：中国
标准值：20.87nm分子式：/
规格 市场价(元) 折后价(元) 供货周期 数量 加入购物车 20mm*20mm 0.00 0.00 现货 加入购物车
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产品详细介绍
英文名称 Thin Film Thickness CRM of SiO2/Si 标准物质证书
标准物质证书英文 应用领域 物理学与物理化学/光学特性 保存条件 真空包装，阴凉、干燥处存放 使用注意事项 样品开封使用应保证取样工具等洁净，避免样品沾污。 特征形态 固态 基体 主要分析方法 定值单位
规格 外包装为铝箔真空袋，每包装为一片，20 mm乘以20 mm 量值信息 标准值 不确定度 单位 CAS 备注 二氧化硅薄膜 20.87 0.36 膜厚（nm）
